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鍍層厚度

常常采用(yòng)的方法有(yǒu)金相法、X-ray方法

金相法:采用(yòng)金相顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um,才能(néng)保證測量結果在誤差範圍之内;厚度越大,誤差越小(xiǎo)。

X-ray法适用(yòng)于測定電(diàn)鍍及電(diàn)子線(xiàn)路闆等行業需要分(fēn)析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。


主要測試項目

鍍層厚度

塗層厚度

複合鍍層厚度

塗層附着力


檢測設備

x熒光膜厚儀

金相顯微鏡