電(diàn)鍍螺栓頭部開裂失效分(fēn)析

電(diàn)鍍過程是一個複雜的化學(xué)物(wù)理(lǐ)過程，影響電(diàn)鍍産(chǎn)品的因素很(hěn)多(duō)。電(diàn)鍍液的組成、電(diàn)鍍工(gōng)藝、鍍件的表面狀況及生産(chǎn)過程中(zhōng)的一些細小(xiǎo)的疏忽都會對電(diàn)鍍産(chǎn)品的最終質(zhì)量形成巨大的影響。由于鍍層的厚度通常在微米的數量級，要準确分(fēn)析出造成鍍層的缺陷必須借助一些分(fēn)析儀器設備才能(néng)完成，通過這些儀器設備，找出失效的根源，最終為(wèi)生産(chǎn)工(gōng)藝改進提供科(kē)學(xué)依據。

為(wèi)進一步驗證失效的模式,需采用(yòng)高倍顯微鏡和電(diàn)子掃描顯微鏡對失效部位的形狀、位置顔色、機械和物(wù)理(lǐ)結構、物(wù)理(lǐ)特性等進行科(kē)學(xué)的表征,同時采用(yòng)各種分(fēn)析儀器對失效部位的化學(xué)元素和分(fēn)子的構成進行測量,為(wèi)判斷失效的原因提供依據。

我們實驗室可(kě)根據失效部位的特征分(fēn)析,結合失效發生的情況調查,對失效模式和現象進行理(lǐ)論推理(lǐ),提出導緻該失效模式産(chǎn)生的内在原因和物(wù)理(lǐ)化學(xué)過程。從電(diàn)鍍工(gōng)藝和電(diàn)鍍材料等方面查找原因，分(fēn)析缺陷形貌，發現是否由C和O從電(diàn)鍍工(gōng)藝和電(diàn)鍍材料等造成，從而分(fēn)析出漏鍍的具(jù)體(tǐ)原因。